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产品资料
简单介绍：
用于故障分析与气氛敏感材料研究的高真空原子力显微镜
详情介绍：
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针对失效分析和大样本研究的原子力显微镜
作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20这款全球精密的大型样品原子力显微镜，凭借着出色的数据准确性，在半导体和超平样品行业中大受赞扬。 |
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大**的分析功能 Park NX20具备有一无二的功能，可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。****的精密度为您带来高分辨率数据，让您能够更加专注于工作。与此同时，真正非接触扫描模式让探针**更锋利、更耐用，无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和**。 |
即便是**次接触原子显微镜的工程师也易于操作 ParkNX20拥有业界便捷的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也不用为此而时时不停的指导初学者。借助这一系列特点，您可以更加专注于解决更为重大的问题，并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。 |
为FA和研究实验室提供**的形貌测量解决方案
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样品侧壁三维结构测量
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对样品和基片进行表面光洁度测量
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高分辨率电子扫描模式
*快的扫描式电容显微镜
无摩擦导电原子力显微镜 |
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多种独有的砖利技术帮助顾客减少测试时间
CrN样品所做的针尖磨损实验
*佳AFM测量
借助真正非接触模式，探针**在扫描氮化铬样品（即探针检测样品）200次后仍可保持锋利的状态。
氮化铬的表面粗糙且研磨性强，会让普通的探针很快变钝。
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低噪声Z探测器测量准确的样品表面形貌
没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌超低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,从而达到非常精准样品形貌成像，没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。 |
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