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sdsd 測試圖片
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移動電源
聯係我們:15890105855
產品資料
簡單介紹:
用於故障分析與氣氛敏感材料研究的高真空原子力顯微鏡
詳情介紹:
針對失效分析和大樣本研究的原子力顯微鏡
作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20這款全球精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數據準確性,在半導體和超平樣品行業中大受讚揚。 |
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大**的分析功能 Park NX20具備有一無二的功能,可快速幫助客戶找到產品失效的原因,並幫助客戶製定出更多具有創意的解決方案。****的精密度為您帶來高分辨率數據,讓您能夠更加專注於工作。與此同時,真正非接觸掃描模式讓探針**更鋒利、更耐用,無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和**。 |
即便是**次接觸原子顯微鏡的工程師也易於操作 ParkNX20擁有業界便捷的設計和自動界麵,讓你在使用時無需花費大量的時間和精力,也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一係列特點,您可以更加專注於解決更為重大的問題,並為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。 |
為FA和研究實驗室提供**的形貌測量解決方案
樣品側壁三維結構測量
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對樣品和基片進行表麵光潔度測量
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高分辨率電子掃描模式
*快的掃描式電容顯微鏡
無摩擦導電原子力顯微鏡 |
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多種獨有的磚利技術幫助顧客減少測試時間
CrN樣品所做的針尖磨損實驗
*佳AFM測量
借助真正非接觸模式,探針**在掃描氮化鉻樣品(即探針檢測樣品)200次後仍可保持鋒利的狀態。
氮化鉻的表麵粗糙且研磨性強,會讓普通的探針很快變鈍。
低噪聲Z探測器測量準確的樣品表麵形貌
冇有壓電蠕變誤差的真正樣品表麵形貌超低噪聲Z探測器,噪音水平低於0.02 nm,從而達到非常精準樣品形貌成像,冇有邊沿過衝無需校準。Park NX20在為您提供好的數據的同時也為您節省了寶貴的時間。 |
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